RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2015, том 41, выпуск 13, страницы 86–94 (Mi pjtf7769)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Влияние сульфидной пассивации на люминесценцию микродисков с квантовыми ямами и квантовыми точками

Н. В. Крыжановскаяab, М. В. Лебедевc, Т. В. Львоваc, Ю. В. Кудашоваa, И. И. Шостакa, Э. И. Моисеевab, А. Е. Жуковabd, М. В. Максимовabc, М. М. Кулагинаc, А. М. Надточийa, С. И. Трошковc, А. А. Блохинb, М. А. Бобровc

a Санкт-Петербургский академический университет — научно-образовательный центр нанотехнологий РАН (Академический университет)
b Санкт-Петербургский государственный политехнический университет
c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
d Санкт-Петербургский научный центр РАН

Аннотация: Была использована сульфидная пассивация для уменьшения скорости поверхностной безызлучательной рекомбинации в микродисковых мезах на основе гетероструктур (AlGaIn)As/GaAs, активная область которых была сформирована либо из 10 квантовых ям GaAs/AlAs, либо из одного слоя квантовых точек InAs/In$_{0.15}$Ga$_{0.85}$As. Показано, что пассивация приводит к существенному возрастанию интенсивности фотолюминесценции во всех типах мезаструктур.

Поступила в редакцию: 10.02.2015


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2015, 41:7, 654–657

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025