Оценка вклада $^{14}$С, содержащегося на поверхности детекторов, в фон в низкофоновых экспериментах методом окситермографии

Предложен новый способ оценки содержания $^{14}$С на поверхности материалов, используемых в низкофоновых экспериментах. В основе способа окситермографическое определение количества углеродсодержащих веществ на поверхности исследуемого материала. Метод позволяет оценивать долю $^{14}$С на поверхности исходя из его процентного содержания в общем углероде. Апробация способа проходила в двух различных лабораторных помещениях ОИЯИ и Университета “Дубна”.