RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2014, том 40, выпуск 9, страницы 64–71 (Mi pjtf8147)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Образование центров окраски в тонком слое кристаллов LiF под действием ВУФ-излучения барьерного разряда

Е. В. Милютинаab, А. Ф. Петровскийab, А. Л. Ракевичab, Е. Ф. Мартыновичab

a Иркутский филиал института лазерной физики СО РАН
b Иркутский государственный университет

Аннотация: Под действием излучения барьерного разряда в поверхностном слое кристалла фторида лития, использованного в качестве диэлектрического барьера, создаются люминесцирующие центры окраски. По кинетике затухания и спектрам люминесценции установлено, что это $F^+_3$- и $F_2$-центры. Основным механизмом генерации структурных дефектов является фотонный механизм, т. е. механизм образования дефектов, вследствие создания электронно-дырочных пар, в результате поглощения фотонов барьерного разряда. Барьерный разряд в различных газах может быть успешно использован для создания на поверхности прозрачных диэлектриков тонких слоев, содержащих центры люминесценции для различных научных и технологических приложений.

Поступила в редакцию: 23.12.2013


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2014, 40:5, 393–396

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025