Расчет контраста протяженных дефектов в методе индуцированного рентгеновским пучком тока

Для метода наведенного рентгеновского пучком тока (XBIC) рассчитан контраст протяженных дефектов – дислокаций и границ зерен. Показано, что максимальный контраст растет при увеличении диффузионной длины неравновесных носителей заряда и уменьшается при увеличении ширины рентгеновского зонда. Приведено сравнение модельных и экспериментально измеренных профилей контраста наведенного тока от границ зерен.