О влиянии асимметрии отражения на когерентное излучение релятивистских электронов в кристаллах

Модифицирована предложенная ранее методика расчета выхода дифрагированных реальных фотонов в совершенных кристаллах с использованием подхода Дарвина и Принса о многократных переотражениях фотонов па отражающих плоскостях кристалла с помощью метода Монте-Карло. Обсуждается влияние асимметрии отражающей плоскости относительно выходной поверхности па выход дифрагированного излучения. Анализируются результаты измерений угловых распределений излучения параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) релятивистских электронов в кристаллах, в которых отражающая плоскость была не перпендикулярна выходной поверхности. Показано, что форма угловых распределений излучения быстрых электронов в топких кристаллах может быть с достаточной точностью описана в рамках кинематической теории ПРИ с учетом вклада дифракции реальных фотонов как для симметричной, так и для асимметричной геометрии рассеяния. Информации для вывода о соотношении абсолютных значений измеренных выходов излучения с расчетными не достаточно. Необходимы измерения выходов излучения или угловых распределений для двух идентичных отражающих плоскостей с разным значением асимметрии в одинаковых экспериментальных условиях.