RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Прикладная механика и техническая физика // Архив

Прикл. мех. техн. физ., 2000, том 41, выпуск 1, страницы 218–222 (Mi pmtf2891)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Исследование деформаций поликристаллических образцов методом накладной голографической интерферометрии

С. И. Герасимовa, В. А. Жилкинb

a Сибирский государственный университет путей сообщения, 630049 Новосибирск
b Челябинский государственный агроинженерный университет, 454080 Челябинск

Аннотация: Рассмотрен новый экспериментальный метод изучения механических свойств кристаллических материалов, основанный на объединении преимуществ голографической интерферометрии и контактного способа крепления регистрирующей среды. Показана высокая эффективность предложенного подхода при определении поверхностных перемещений и деформаций.

УДК: 620.171.5

Поступила в редакцию: 20.08.1998
Принята в печать: 12.11.1998


 Англоязычная версия: Journal of Applied Mechanics and Technical Physics, 2000, 41:1, 200–204

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024