RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Прикладная механика и техническая физика // Архив

Прикл. мех. техн. физ., 2019, том 60, выпуск 4, страницы 111–118 (Mi pmtf420)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Численное исследование релаксации напряжения в наноструктурах в процессе одноосной деформации

И. Ф. Головневa, Е. И. Головневаa, М. С. Воронинab, Э. Р. Прууэлa

a Институт теоретической и прикладной механики им. С. А. Христиановича СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
b Институт гидродинамики им. М. А. Лаврентьева СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия

Аннотация: Проведено исследование релаксации напряжения в наноразмерном стержне, содержащем структурные дефекты, в процессе одноосной деформации с постоянной скоростью и определены причины возникновения этого явления. В предположении, что структурные дефекты могут являться носителем необратимой деформации более высокого уровня по сравнению с дислокациями, поставленная задача решена с использованием метода молекулярной динамики. Установлено, что релаксация напряжения сопровождается переходом всей системы в стационарное состояние с более глубоким потенциальным минимумом по сравнению с энергией системы до процесса релаксации напряжения, вследствие чего происходит увеличение температуры и уменьшение компонент тензора деформации.

Ключевые слова: метод молекулярной динамики, релаксация напряжения, наноразмерный стержень, дефекты кристаллической решетки, носитель необратимой деформации.

УДК: 539.3

Поступила в редакцию: 02.10.2018
Исправленный вариант: 02.10.2018
Принята в печать: 25.03.2019

DOI: 10.15372/PMTF20190412


 Англоязычная версия: Journal of Applied Mechanics and Technical Physics, 2019, 60:4, 685–691

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024