Определение эффективной толщины приэлектродного слоя в сверхзвуковом потоке плазмы конденсаторным методом

Конденсаторным методом определены толщины приэлектродного слоя в импульсном сверхзвуковом потоке плазмы. Измерена емкость приэлектродного слоя, и по ее значению определена эффективная толщина слоя. Подтверждено общепринятое положение о том, что значение эффективной толщины приэлектродного слоя в потоке плазмы соответствует радиусу Дебая.