Задача группового тестирования с двумя дефектами

Рассматривается классическая $(2,N)$-задача группового тестирования – задача нахождения двух дефектных среди $N$ элементов. Предлагается новый адаптивный алгоритм, такой что при $N=\lfloor 2^{\frac{t+1}2}-t\cdot2^{\frac t4}\rfloor$ задача может быть решена за $t$ тестов.