RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1980, том 7, номер 7, страницы 1566–1569 (Mi qe10457)

Краткие сообщения

Применение лазерного интерферометра для контроля параметров кварцевых резонаторов

В. П. Азовцев, О. В. Голосной, Н. Н. Евтихиев, В. П. Захаров, В. И. Кухтевич, Ю. А. Снежко, В. А. Чуйко

Московский институт радиотехники, электроники и автоматики

Аннотация: Сообщается о применении лазерного интерферометра для одновременного измерения распределения амплитуд колебаний поверхности кварцевых пьезоэлементов, радиуса кривизны и микродефектов с визуализацией зоны сканирования луча на телевизионном экране. Обсуждаются результаты экспериментов, выполненных на пьезоэлементах АТ- и ДТ-срезов, а также перспективы использования метода для совершенствования методики прецизионной подгонки частоты кварцевых резонаторов.

УДК: 621.372.412

PACS: 42.60.Da

Поступила в редакцию: 25.09.1979


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1980, 10:7, 902–904

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024