RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1976, том 3, номер 5, страницы 1126–1129 (Mi qe11377)

Краткие сообщения

О возможности использования грубых дифракционных решеток для измерения параметров пучка инфракрасных лазеров

В. И. Купренюк, Л. Д. Смирнова, В. В. Степанов, В. Е. Шерстобитов


Аннотация: Рассматривается возможность использования проволочных дифракционных решеток для измерения параметров пучка ИК лазеров непрерывного действия. Показано, что применение обдува решетки воздушной струей позволяет увеличить предельные плотности лазерного излучения, падающего на решетку, при сохранении высокого оптического качества луча.

УДК: 621.378.325

PACS: 42.80.Fn

Поступила в редакцию: 01.10.1975


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1976, 6:5, 604–605


© МИАН, 2024