RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1978, том 5, номер 12, страницы 2650–2654 (Mi qe11403)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Краткие сообщения

Особенности метода внутрирезонаторной спектроскопии с использованием свип-лазеров на красителях

Ф. В. Карпушко, Г. В. Синицын

Институт физики АН БССР, Минск

Аннотация: Рассматривается метод внутрирезонаторной абсорбционной спектроскопии на основе использования свип-лазеров на красителях. Показано, что выбором скорости свипирования динамический диапазон вносимых селективных потерь, определяемых с сохранением линейности регистрации, расширяется на 3–4 порядка. Участок спектра, в котором за время одного импульса генерации потери регистрируются с практически одинаковой чувствительностью, ограничивается лишь полосой усиления красителя. Получены выражения, описывающие форму провала для гауссова профиля вносимых потерь.

УДК: 621.375.82

PACS: 07.65.-b, 42.60.Kg

Поступила в редакцию: 28.06.1978


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1978, 8:12, 1497–1499


© МИАН, 2024