RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1975, том 2, номер 10, страницы 2223–2230 (Mi qe12017)

Применение фотопленок типа УФ-Р и УФ-ВР для диагностики лазерной плазмы по непрерывному рентгеновскому излучению в спектральном интервале 0,1–1 нм

А. А. Кологривов, Ю. А. Михайлов, Г. В. Склизков, С. И. Федотов, А. С. Шиканов, М. Р. Шпольский

Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР

Аннотация: Приводятся результаты экспериментального исследования возможности применения фотопленок типа УФ-Р и УФ-ВР для диагностики по непрерывному рентгеновскому излучению (в диапазоне 0,1–1 нм) высокотемпературной плазмы, образующейся при фокусировании лазерного излучения (1,06 мкм) на поверхность плоской массивной мишени на Al. Рассматриваются особенности методики многоканального детектирования рентгеновского излучения при помощи фотопленок и демонстрируется применение методики для измерения электронной температуры лазерной плазмы в диапазоне плотностей потока 1013–1015 Вт/см2. Сообщаются экспериментальные данные по измерению абсолютной и относительной чувствительности фотопленок типа УФ-Р и УФ-ВР к рентгеновскому излучению.

УДК: 621.039.66:621.375.826+771.531.31:778.33

PACS: 07.50.E

Поступила в редакцию: 17.04.1975


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1975, 5:10, 1210–1214


© МИАН, 2024