RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1982, том 9, номер 5, страницы 1047–1049 (Mi qe12499)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Краткие сообщения

Определение оптических констант твердых тел методом лазерной спектроскопии поверхностных волн в далеком ИК диапазоне

M. Таке

Физический институт Вюрцбургского университета, ФРГ

Аннотация: Измерение оптических констант образцов твердых тел с помощью отражения и пропускания света становится весьма трудной задачей, как только реальная часть диэлектрической проницаемости становится отрицательной. Однако если она достаточно мала, то в образце можно возбудить поверхностные волны и определить их дисперсию, зная которую можно вычислить диэлектрическую проницаемость. Описан метод измерений с помощью лазера в далекой ИК области спектра и показаны пределы его применимости.

УДК: 621.373.8.029.71/73

PACS: 07.65.Gj, 78.20.Dj, 42.60.Kg, 68.90.+g


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1982, 12:5, 662–664

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024