RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2006, том 36, номер 2, страницы 111–113 (Mi qe13111)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Лазеры

Ресурсные испытания суперлюминесцентных диодов

П. А. Лобинцовa, Д. С. Мамедовa, С. Д. Якубовичb

a ООО "Суперлюминесцентные диоды", г. Москва
b Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (технический университет)

Аннотация: Исследован процесс медленной деградации партии из 48 суперлюминесцентных диодов (СЛД), изготовленных из одной гетероэпитаксиальной пластины, с различными длинами активных каналов La (24 образца с La = 600 мкм и 24 образца с La = 1000 мкм). Диоды были разбиты на шесть групп по восемь штук в каждой и подвергались испытаниям при стабилизированном токе инжекции I=140 мА и температурах теплопровода 25, 55 и 70°С. Медианное время жизни СЛД с La=600 мкм составило 3000, 2450 и 1900 ч при температуре 25, 55 и 70°С соответственно. Для СЛД с La=1000 мкм расчетное время жизни превышает 100000 ч при 25°С и составляет 53000 ч при 55°С и 30500 ч при 70°С. Полученные результаты подтверждают, что перспективным техническим решением, позволяющим увеличить время жизни мощных СЛД, является конструкция с неинжектируемыми торцевыми участками активного канала, обеспечивающая снижение токовых, а следовательно, и тепловых нагрузок.

PACS: 42.55.Px, 85.60.Jb, 42.60.Lh

Поступила в редакцию: 19.10.2005


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2006, 36:2, 111–113

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024