RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2007, том 37, номер 6, страницы 590–594 (Mi qe13352)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Голографические методы измерений

Голографический интерференционный метод исследования остаточных напряжений

А. А. Апальковa, А. И. Ларкинa, А. В. Осинцевa, И. Н. Одинцевa, В. П. Щепиновa, А. Ю. Щикановa, Дж Фонтенb

a Московский инженерно-физический институт (государственный университет)
b Institute National de Sciences Appliquees de Strasbourg, France

Аннотация: Рассмотрена оригинальная методика определения остаточных напряжений, основанная на совместном применении методов голографической интерферометрии и зондирующего отверстия. В качестве первичной информации используется разность порядков интерференционных полос для пар точек поверхности тела, расположенных на направлениях главных напряжений. Представлены результаты тестового эксперимента по измерению напряжений в пластине, деформируемой в условиях чистого сдвига, и результаты измерения остаточных сварочных напряжений в двух образцах, сваренных с помощью лазера.

PACS: 42.40.Kw, 42.87.Bg, 42.62.Cf

Поступила в редакцию: 27.09.2005
Исправленный вариант: 05.02.2007


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2007, 37:6, 590–594

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024