RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2010, том 40, номер 7, страницы 652–658 (Mi qe14288)

Эта публикация цитируется в 11 статьях

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Измерение поверхностного распределения длины волны узкополосного излучения колориметрическим методом

А. В. Крайский, Т. В. Миронова, Т. Т. Султанов

Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва

Аннотация: Предложен способ определения длины волны узкополосного светового излучения по цифровой фотографии излучающей поверхности. Используемая фотокамера должна быть определенным образом откалибрована. Точность определения длины волны лучше 1 нм. Проверка проведена на желтом дублете ртутного спектра и на примыкающем участке сплошного спектра излучения лампы накаливания. С помощью предложенного метода изучена степень однородности набухания голографических сенсоров как в стационарном состоянии, так и в динамике.

PACS: 07.60.Dq, 07.68.+m

Поступила в редакцию: 29.01.2010
Исправленный вариант: 27.05.2010


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2010, 40:7, 652–658

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024