RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2013, том 43, номер 12, страницы 1139–1142 (Mi qe15195)

Эта публикация цитируется в 23 статьях

Терагерцевое излучение

Отклонение пучка монохроматического терагерцевого излучения методами акустооптики

В. Б. Волошиновa, П. А. Никитинa, В. В. Герасимовb, Б. А. Князевc, Ю. Ю. Чопороваb

a Физический факультет, Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
b Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, г. Новосибирск
c Новосибирский национальный исследовательский государственный университет

Аннотация: Впервые продемонстрирована возможность управляемого отклонения пучка электромагнитного терагерцевого излучения лазера на свободных электронах методами акустооптики (АО). В качестве материала АО дефлектора использовался монокристаллический германий, имеющий значительный показатель преломления n = 4.0 при относительно низком показателе поглощения электромагнитного излучения. Измеренный на длине волны λ = 140 мкм показатель поглощения α в германии составил 0.75 ± 0.02 см-1. Показано, что интенсивность дифрагировавшего пучка максимальна при эффективной длине АО взаимодействия l = 1/α. В эксперименте достигнута эффективность дифракции 0.05% при мощности бегущей акустической волны 1.0 Вт. Установлено, что при вариации частоты ультразвука от 25 до 39 МГц внешний угол Брэгга изменялся в пределах 19.5° – 27.5°. При фиксированном угле Брэгга θB = 22.4° полоса частот сканирования света составила 4.2 ± 0.1 МГц, а угловой диапазон качания лазерного луча достигал 2.5° ± 0.5°. Полученные результаты свидетельствуют о возможности применения АО взаимодействия для управляемого отклонения электромагнитного излучения терагерцевого диапазона.

Ключевые слова: акустооптика, терагерцевый диапазон, дефлектор, германий, угол Брэгга, лазер на свободных электронах.

PACS: 78.20.Hp, 42.25.Fx

Поступила в редакцию: 12.04.2013
Исправленный вариант: 26.06.2013


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2013, 43:12, 1139–1142

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024