Аннотация:
Экспериментально измерен постоянный ток, наводимый в кристаллах Bi12TiO20 (BTO), Bi12SiO20 (BSO) и обусловленный исключительно движением интерференционной картины. На основе этого предложен метод измерения параметров фоторефрактивных кристаллов.