С. Н. Багаев, В. В. Осипов, С. М. Ватник, В. А. Шитов, И. А. Ведин, П. Ф. Курбатов, Р. Н. Максимов, К. Е. Лукьяшин, А. А. Павлюк, “Спектрально-генерационные характеристики керамики 1% Ho : YAG при внутрирезонаторной накачке”, Квантовая электроника, 45:1 (2015), 23

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Лазеры

Спектрально-генерационные характеристики керамики 1% Ho : YAG при внутрирезонаторной накачке

С. Н. Багаев^a, В. В. Осипов^b, С. М. Ватник^a, В. А. Шитов^b, И. А. Ведин^a, П. Ф. Курбатов^a, Р. Н. Максимов^b, К. Е. Лукьяшин^b, А. А. Павлюк^c

^a Институт лазерной физики СО РАН, г. Новосибирск
^b Институт электрофизики УрО РАН, г. Екатеринбург
^c Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН, г. Новосибирск

Аннотация: Синтезирована высокопрозрачная 1% Ho : YAG-керамика из смеси полученных лазерным методом нанопорошков Ho : Y₂O₃ и Al₂O₃, с коэффициентом светопропускания в ИК области более 82% при толщине образца 1 мм. Представлены результаты исследований спектрально-генерационных характеристик керамики 1% Ho :YAG при внутрирезонаторной накачке излучением дискового элемента 5% Tm : KLuW. На основе анализа спектральной интенсивности генерации в диапазоне 1.8 – 2.1 мкм и параметров резонатора сделана оценка дифференциальной эффективности генерации керамики 1% Ho :YAG, составившей около 40%.

Ключевые слова: керамические лазеры, тонкие диски, диодная накачка, двухмикронный спектральный диапазон.

PACS: 42.55.Rz, 42.70.Hj, 81.05.Je

Поступила в редакцию: 26.06.2014
Исправленный вариант: 21.08.2014