Отражение световых пучков от чирпированной диэлектрической плоскослоистой структуры

Численно исследовано отражение световых пучков с различной шириной углового спектра от чирпированной плоскослоистой диэлектрической структуры. Для широких пучков общий боковой сдвиг отраженного пучка зависит от положения фотонного барьера внутри структуры и сдвига Гуса–Хенхен. Для узких пучков область взаимодействия со структурой увеличивается, происходит уширение профиля и фазовая модуляция волнового фронта отраженного пучка. Показано, что световое излучение, отраженное от квазипериодической структуры с отрицательной пространственной дисперсией, испытывает фокусировку.