RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2018, том 48, номер 10, страницы 916–929 (Mi qe16900)

Эта публикация цитируется в 10 статьях

Приглашенная статья

Апериодические отражательные дифракционные решетки для мягкого рентгеновского излучения и их применение

Е. А. Вишняковa, А. О. Колесниковab, А. С. Пирожковc, Е. Н. Рагозинa, А. Н. Шатохинab

a Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва
b Московский физико-технический институт (государственный университет), г. Долгопрудный, Московская обл.
c Kansai Photon Science Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology, Japan

Аннотация: Выполнен краткий обзор работ, посвященных созданию и использованию в эксперименте спектральных приборов на основе апериодических отражательных дифракционных решеток с шагом, который монотонно меняется на апертуре по заданному закону (VLS-решеток). Рассмотрено применение приборов на основе VLS-решеток для спектроскопии лабораторной и астрофизической плазмы, в том числе для диагностики релятивистской лазерной плазмы, для измерения ширины линии излучения рентгеновского лазера, регистрации высоких гармоник лазерного излучения, излучения быстрых электрических разрядов и других лабораторных источников рентгеновского излучения, а также в рефлектометрии, рентгеновском флуоресцентном анализе и микроскопии с использованием синхротронного излучения и излучения лазерной плазмы и в эмиссионной спектроскопии, совмещенной с электронным микроскопом. Рассмотрены достижения в начатых в последние годы разработке и создании специализированных VLS-спектрометров для исследования электронной структуры различных материалов и молекул методом спектроскопии резонансного неупругого рентгеновского рассеяния синхротронного излучения. Описаны создаваемые на основе вогнутых VLS-решеток скользящего падения спектрографы с плоским фокальным полем, совместимые с современными ПЗС-детекторами, а также плоские VLS-решетки, которые являются ключевым элементом сканирующих спектрометров/монохроматоров высокого и сверхвысокого разрешения с постоянным углом отклонения и стигматических (изображающих) спектрометров, также совместимых с ПЗС-детекторами.

Ключевые слова: мягкое рентгеновское/ВУФ излучение, VLS-решетка, спектрометр с плоским полем, стигматический (изображающий) спектрометр.

Поступила в редакцию: 18.04.2018
Исправленный вариант: 16.08.2018


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2018, 48:10, 916–929

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024