RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2024, том 54, номер 8, страницы 483–488 (Mi qe18461)

Воздействие лазерного излучения на вещество

К вопросу о рентгеноспектральной диагностике лазерной плазмы с внешней фотонакачкой

Р. К. Куликовab, И. Ю. Скобелевab, С. С. Макаровac

a Объединенный институт высоких температур РАН, Россия, 125412 Москва
b Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", Россия, 115409 Москва
c Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Россия, 123182 Москва

Аннотация: В связи с планируемым созданием в России установки класса «Мегасайенс» "СИЛА", представляющей из себя ускорительно-накопительный комплекс, который объединяет синхротронный источник четвертого поколения с рентгеновским лазером на свободных электронах, и с интенсивно ведущимися экспериментами с лазерной плазмой, использующими мишени типа хольраум, особую актуальность приобретает разработка методов диагностики плотной высокотемпературной плазмы, которая подвергает воздействию мощных потоков коротковолнового излучения. Рассмотрена возможность диагностики такой плазмы одной из рентгеноспектральных методик, а именно, по относительным интенсивностям резонансной и интеркомбинационной линий многозарядных Не-подобных ионов. На основе детальных кинетических расчетов определены условия, при которых эта методика может применяться к рассматриваемой плазме без каких-либо модификаций, и рассчитаны относительные интенсивности данных линий для случаев, когда внешнее воздействие существенно меняет кинетику их возбуждения.

Ключевые слова: лазерная плазма, рентгеновская спектроскопия, внешняя фотонакачка.

Поступила в редакцию: 31.10.2024


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2024, 51:suppl. 11, S903–S911


© МИАН, 2025