RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2025, том 55, номер 6, страницы 354–358 (Mi qe18592)

Дифракционная оптика

Отражательная зонная пластинка как инструмент характеризации лазерно-плазменного источника мягкого рентгеновского излучения

А. О. Колесниковa, Е. Н. Рагозинa, Ан. А. Фирсовb, А. Н. Шатохинa

a Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, Россия, 119991 Москва
b НИЦ "Курчатовский институт" – НИИСИ, Россия, 117218 Москва

Аннотация: Рассчитана отражательная зонная пластинка скользящего падения для работы на длине волны 135 Å в первом порядке дифракции, на длине волны 67.5 Å во втором и т.д. Предложена схема спектрометра с отражательной зонной пластинкой, обладающая плоским полем в области 125 – 235 Å. Методом численной трассировки лучей рассчитано спектральное изображение точечного источника на длинах волн 135 и 135.1 Å, а также 125, 125.1, 130, 130.1, 140, 140.1 и 145, 145.1 Å. Показано, что спектральная разрешающая способность в области плоского поля превышает 103, а пространственное разрешение в скрещенном направлении на избранной длине волны 135 Å не хуже 1 мкм. Отражательная зонная пластинка представляет собой эффективный инструмент для диагностики пространственных и спектральных параметров лазерно-плазменного источника мягкого рентгеновского излучения.

Ключевые слова: мягкое рентгеновское излучение, отражательная зонная пластинка, VLS-решетка, лазерно-плазменный источник излучения, спектральное разрешение, пространственное разрешение.

Поступила в редакцию: 02.06.2025
Исправленный вариант: 09.07.2025
Принята в печать: 20.07.2025


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2025, 52:suppl. 8, S854–S859


© МИАН, 2026