Спектральные особенности нелинейного отклика высокотемпературных сверхпроводниковых пленок в методах вырожденной четырехфотонной спектроскопии

Приведены результаты расчета электронного нелинейного отклика χ_ee⁽³⁾ высокотемпературных сверхпроводниковых пленок в методах вырожденной четырехфотонной спектроскопии. Показано, что модель, основанная на учете межзонных электронных переходов в "реальной" зонной структуре с единственным подгоночным параметром (скорость электрон-фононной релаксации), удовлетворительно описывает все известные из эксперимента спектральные особенности отклика, а сами методы вырожденной четырехфотонной спектроскопии за счет интерференционного характера χ_ee⁽³⁾ способны диагностировать наличие энергетической щели в спектре состояний.