RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1994, том 21, номер 2, страницы 126–128 (Mi qe32)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Элементы лазерных установок

Исследование мягкой диафрагмы на основе фотоокисления редкоземельной примеси во флюорите, используемой в качестве внутрирезонаторного элемента ИАГ:Er3+-лазера

С. Г. Лукишоваa, Н. Р. Минуэй Мендезb, Т. В. Тулайковаb

a Институт радиотехники и электроники РАН
b Институт общей физики РАН, г. Москва

Аннотация: Проведены внутрирезонаторные исследования мягкой (аподизирующей) диафрагмы на основе фотоокисления Pr2+ в γ-окрашенном CaF2:Pr под действием излучения аргонового лазера. По сравнению со случаем жесткой диафрагмы в одномодовом режиме для ИАГ:Er3+-лазера получено уменьшение расходимости и увеличение выходной энергии.

PACS: 42.79.Ag, 42.55.Rz

Поступила в редакцию: 22.06.1993


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 1994, 24:2, 117–119

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024