RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1992, том 19, номер 3, страницы 307–309 (Mi qe3402)

Применения лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Оптоэлектронная проекционная инспекционная система, инвариантная к перемещениям и вращениям объекта

А. Н. Бобровский, М. В. Зурин, Г. Д. Мыльников

Институт атомной энергии им. И. В. Курчатова, Москва

Аннотация: Предлагается, использовать метод получения негативного изображения в оптоэлектронной проекционной признаковой инспекционной системе. Метод основан на сдвиге фазы дифракционного максимума нулевого порядка на π в конфокальной конфигурации зеркал, обеспечивающей инвариантность анализируемого фурье-образа к перемещениям объекта в случае темнопольного объекта. Проведены эксперименты по идентификации двух объектов при произвольном перемещении и вращении объектов с применением секторно-кольцевого детектора. Указывается на достоинства применения данной конфигурации в инспекционных системах.

УДК: 681.782.473

PACS: 85.60.-q, 42.30.Kq, 42.79.Bh

Поступила в редакцию: 17.07.1991


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1992, 22:3, 284–285

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024