RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1995, том 22, номер 4, страницы 309–320 (Mi qe349)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Лазеры

Гистерезис мощности и волноводная бистабильность вполосковых квантово-размерных гетеролазерах на основе InGaAs/GaAs/GaAlAs с напряженным активным слоем

П. Г. Елисеевa, Г. Байстерb, А. Е. Дракинa, И. В. Акимоваa, Г. Эрбертb, Ю. Мегеb, Ю. Себастианb

a Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН, г. Москва
b Ferdinand-Braun Institut für Höchstfrequenztechnik, Berlin, Germany

Аннотация: Изучены квантово-размерные инжекционные лазеры с напряженным активным слоем InGaAs, работающие в области 980 нм. Для толщины слоя 6 — 7 нм минимальная пороговая плотность тока при комнатной температуре и длине резонатора 540 мкм составила 120 А/см2. В полосковых лазерных диодах гребенчатого типа (RW — ridge-waveguide) изучены явления, сопровождающие исчезновение рефрактивного бокового ограничения вследствие «антиволноводного» влияния избыточных носителей: срывы и бистабильный режим генерации, гистерезис мощности, изменение диаграммы направленности. Представлены расчеты модового усиления в RW-лазерах при различных геометрических параметрах и в зависимости от концентрации избыточных носителей. Показано, что модовое усиление может проходить максимум и затем существенно уменьшаться с ростом накачки, что использовано в объяснении срыва генерации и гистерезиса мощности.

PACS: 42.55.Px, 42.60.Lh


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 1995, 25:4, 291–301

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024