Влияние оптических параметров кристалла на точность измерения яркости квантовым фотометром

Рассмотрено проявление отражения и поглощения излучения в параметрическом преобразователе света при абсолютном измерении спектральной плотности энергетической яркости с помощью квантового фотометра. Предложен универсальный метод расчета поправочного множителя, исключающего систематические погрешности, которые могут возникать при измерении яркости путем параметрическою преобразования в кристалле с поглощением и отражением сигнальных, измеряемых волн или волн накачки. Для преобразователей различной геометрии получены выражения поправочного множителя через коэффициенты поглощения и отражения от граней кристалла всех волн, участвующих в параметрическом взаимодействии.