Связь анизотропии излучения отраженной второй гармоники с ориентацией поверхности кристалла

Для кристаллов классов симметрии m3m и 432 рассмотрены анизотропные свойства отраженной второй гармоники при произвольной ориентации поверхности кристалла относительно кристаллографической системы координат. Показана возможность нелинейно-оптического контроля разориентации поверхности относительно грани (001) на угол до единиц минут. Установлена применимость поляризационного ss-запрета при квадрупольном механизме ГВГ в кристаллах классов симметрии m3m и 432.