Аннотация:
Исследовано влияние коротковолнового излучения накачки на спектрально-люминесцентные характеристики
кристаллов ГСГГ:Сг3+, Nd3+ и ГСАГ:Сг3+, Nd3+. Реализована чувствительная схема измерения наведенного поглощения, основанная на многопроходном зондировании кристалла лазерным излучением. Измерены зависимости наведенного поглощения от энергии возбуждения, времена жизни фотоиндуцированных центров окраски, исследовано влияние наведенного поглощения на эффективность накачки активного элемента лазера. Установлено, что интенсивность фотоиндуцированного поглощения в кристалле ГСАГ: Сг3+, Nd3+ существенно меньше, чем в кристалле ГСГГ: Сг3+, Nd3+. Показано, что наведенное поглощение приводит к снижению эффективности заселения верхнего лазерного уровня 4F3/2 иона Nd3+.