RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1983, том 10, номер 3, страницы 649–652 (Mi qe4178)

Краткие сообщения

Когерентно-оптический контроль качества и формы зеркальных объектов

В. Г. Волостников, В. А. Катулин, В. В. Котляр, А. Н. Малов

Куйбышевский филиал Физического института им. П. Н. Лебедева АН СССР

Аннотация: Рассмотрен сравнительно простой метод выявления дефектов формы и микродефектов зеркальных поверхностей тел вращения (шариков и роликов). Показано, что метод обладает интерференционной чувствительностью к обнаружению дефектов геометрии поверхности и пониженными требованиями к помехозащищенности.

УДК: 535.41.06

PACS: 42.85.Fe, 68.90.+g

Поступила в редакцию: 04.05.1982


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1983, 13:3, 396–398

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024