RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1984, том 11, номер 7, страницы 1467–1469 (Mi qe5294)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Краткие сообщения

Влияние воды на прочность волоконных световодов

В. А. Богатыревab, М. М. Бубновab, Н. Н. Вечкановab, А. Н. Гурьяновab, Е. М. Диановab, С. Л. Семеновab

a Институт общей физики АН СССР, Москва
b Институт химии АН СССР, Горький

Аннотация: Исследовано влияние воды на прочность волоконных световодов, изготовленных по технологии ИХАН–ИОФАН. Хранение световодов в ненагруженном состоянии в воде в течение 90 дней привело к снижению их прочности на 15 %, однако после сушки световодов при температуре 100 °C их прочность восстанавливалась до уровня 98 % от исходного. Это позволяет сделать вывод об отсутствии роста дефектов в световоде при хранении его в ненагруженном состоянии. На основании измерений разрывной прочности световодов на воздухе и в воде при различных скоростях нагружения определено значение параметра, характеризующего скорость роста дефектов, n = 21,5 ± 1,5. Обнаружено, что значение n одинаково для световодов, находящихся в лабораторных условиях и в воде.

УДК: 681.7.068

PACS: 42.81.Qb, 42.81.Cn, 81.70.Bt, 42.70.Ce

Поступила в редакцию: 07.12.1983


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1984, 14:7, 991–992

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024