К. Гетц, М. П. Калашников, Ю. А. Михайлов, А. В. Роде, Г. В. Склизков, С. И. Федотов, Э. Ферстер, П. Цаумзайль, “Методика исследования абсолютной интенсивности рентгеновских спектров многозарядных ионов”, Квантовая электроника, 8:3 (1981), 615

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Методика исследования абсолютной интенсивности рентгеновских спектров многозарядных ионов

К. Гетц^a, М. П. Калашников^b, Ю. А. Михайлов^b, А. В. Роде^b, Г. В. Склизков^b, С. И. Федотов^b, Э. Ферстер^a, П. Цаумзайль^a

^a Йенский университет им. Ф. Шиллера (ГДР)
^b Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва

Аннотация: С помощью двухкристального дифрактометра получены кривые отражения кристаллов кремния и кварца, результаты измерений сопоставлены с расчетными кривыми. Описана методика измерения абсолютной интенсивности рентгеновского излучения лазерной плазмы. Приведены оценки возможности применения полученных результатов для определения параметров лазерной плазмы.

УДК: 621.039.66:537.531+621.039.64

PACS: 52.70.Kz, 32.30.Rj

Поступила в редакцию: 01.08.1980