RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1981, том 8, номер 11, страницы 2362–2370 (Mi qe8952)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Определение характеристик микродефектов по статистическим закономерностям лазерного разрушения твердых прозрачных материалов

Ю. К. Данилейко, Ю. П. Минаев, В. Н. Николаев, А. В. Сидорин

Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, Москва

Аннотация: Исследована природа зависимости порога объемного лазерного разрушения твердых прозрачных материалов от размера каустики фокусирующей линзы. Эксперименты, проведенные на большом количестве различных образцов кристаллов NaCl и КСl, показали, что в случае $\lambda$ = 10,6 мкм и диаметре каустик фокусирующих линз $\gtrsim$ 23 мкм размерная зависимость исследованных кристаллов обусловлена наличием микродефектов. В то же время установлено, что для большого класса материалов в случае $\lambda$ = 1,06 мкм в диапазоне малых каустик (5–30 мкм) эта зависимость может быть не связана с микродефектами. Развита статистическая теория, позволяющая из вида размерной зависимости определять функцию распределения дефектов по порогам разрушения.

УДК: 537.529

PACS: 42.60.He, 79.20.Ds

Поступила в редакцию: 02.02.1981


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1981, 11:11, 1445–1449

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024