RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 2007, том 37, номер 2, страницы 193–203 (Mi qe8955)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Оптическая микроскопия

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия и ближнепольные оптические зонды: свойства, изготовление и контроль параметров

В. Ф. Дряхлушин, В. П. Вейко, Н. Б. Вознесенский

Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики

Аннотация: Во введении приведен краткий обзор современных областей использования ближнепольных оптических (БО) устройств, и среди них БО микроскопии, спектроскопии и литографии. Обсуждается проблема создания БО зондов как наиболее важного элемента БО устройств, от которого зависит разрешение и эффективность БО приборов. На основе работ авторов детально рассмотрены два различных подхода к формированию БО зондов с использованием адиабатического утоньшения оптического волокна: механическая вытяжка при лазерном нагреве и химическое травление. Предложен, обоснован и экспериментально опробован неразрушающий оптический метод контроля нанометрической апертуры БО зондов. Идея метода – реконструкция ближнепольного источника с помощью теоретического алгоритма обратной задачи из экспериментального дальнепольного распределения. Обсуждаются некоторые перспективы дальнейшего совершенствования конструкций и технологий БО зондов.

PACS: 07.79.Fc

Поступила в редакцию: 29.03.2005
Исправленный вариант: 29.05.2006


 Англоязычная версия: Quantum Electronics, 2007, 37:2, 193–203

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024