К. Гетц, М. П. Калашников, Ю. А. Михайлов, Г. В. Склизков, С. И. Федотов, Э. Ферстер, П. Цаумзайль, “Измерение параметров оболочечных мишеней для ЛТС при помощи рентгеновского шлирен-метода”, Квантовая электроника, 6:5 (1979), 1037

Эта публикация цитируется в 23 статьях

Измерение параметров оболочечных мишеней для ЛТС при помощи рентгеновского шлирен-метода

К. Гетц^a, М. П. Калашников^b, Ю. А. Михайлов^b, Г. В. Склизков^b, С. И. Федотов^b, Э. Ферстер^a, П. Цаумзайль^a

^a Йенский университет им. Ф. Шиллера АН ГДР
^b Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР

Аннотация: Предлагается рентгеновский шлирен-метод контроля оболочечных мишеней для экспериментов по ЛТС с использованием двухкристального дифрактометра. Полученные этим методом одномерные увеличенные снимки оболочечных мишеней демонстрируют возможность определения толщины оболочек ≥ 3З мкм с точностью ± 0,15 мкм.

УДК: 621.378:533.924

PACS: 28.50.Re, 07.85.+n

Поступила в редакцию: 28.07.1978