RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Квантовая электроника // Архив

Квантовая электроника, 1989, том 16, номер 9, страницы 1944–1946 (Mi qe9134)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Применение лазеров и другие вопросы квантовой электроники

Метод микросканирования для исследования распределения интенсивности в пучке излучения инжекционных лазеров

А. П. Богатов, О. А. Кобилджанов, Н. Д. Кундикова

Физический институт им. П. H. Лебедева АН СССР, Москва

Аннотация: Для исследования распределения интенсивности по сечению лазерного пучка предложен метод микросканирования, в котором в качестве фотоприемника используется инжекционный лазер с предельно малой фоточувствительной областью. Приведены распределения интенсивности для пучка излучения линейки инжекционных лазеров, связанных активными Y -ветвителями, позволяющие проследить трансформацию ближнего поля в дальнее.

УДК: 621.373.826.038.825.4

PACS: 42.60.Jf, 42.55.Px

Поступила в редакцию: 16.11.1988


 Англоязычная версия: Soviet Journal of Quantum Electronics, 1989, 19:9, 1253–1254

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024