Интерференционный микроскоп со смещением частоты для исследования профилей волоконных световодов

Описана оптическая схема интерференционного микроскопа, предназначенного для исследования локальных фазовых неоднородностей прозрачных сред. Смещение частоты одного из интерферирующих лучей позволяет повысить точность и автоматизировать процесс измерения. Приведены результаты исследований профилей показателя преломления стеклянных волоконных световодов.