Анализ самосинхронности электронных схем функциональным методом

В статье описывается впервые разработанный функциональный метод анализа самосинхронности электронных схем на основе индицируемости сигналов. В отличие от событийных функциональный метод позволяет получить детальную информацию об индицируемости внутренних и внешних сигналов схемы за один сеанс, сразу по всем сочетаниям параметров схемы. Метод дает возможность исследовать более широкий, чем ранее, класс неисправностей, а также открывает путь для анализа схем практически неограниченного размера. Он характеризуется полиномиальной сложностью вычислений от числа сигналов схемы. На основе функционального метода создана программа анализа самосинхронности САМАН.