Система тестирования самосинхронных микросхем

Рассмотрены основные проблемы сопряжения контрольно-измерительного оборудования с самосинхронными микросхемами. Для проведения тестирования и сравнительных испытаний синхронного и самосинхронного образцов микросхем в лабораторных условиях рассмотрена структура аппаратных и программных средств системы автоматизированного тестирования опытных кристаллов (САТОК). Детально представлен интерфейс взаимодействия пользователя с системой тестирования.