RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Теория вероятностей и ее применения // Архив

Теория вероятн. и ее примен., 2009, том 54, выпуск 3, страницы 439–465 (Mi tvp2804)

Эта публикация цитируется в 16 статьях

О больших уклонениях строго докритических ветвящихся процессов в случайной среде с геометрическим распределением числа потомков

М. В. Козлов

Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова, механико-математический факультет

Аннотация: Для строго докритического ветвящегося процесса $Z_n$ с геометрическим распределением числа непосредственных потомков в случайной среде $X_n$ из независимых одинаково распределенных величин найдена асимптотика вероятностей больших уклонений $P(\ln Z_n>tn)$ при $0 < t \le \mu^*$ в предположении, что шаг $X_i$ сопровождающего случайного блуждания $S_n=\sum_{i=1}^n X_i$ удовлетворяет правостороннему условию Крамера. Она экспоненциальна по $n$ с множителем при $n$, линейно зависящим от $t$. Ранее автором было показано, что при $t > \mu^*$ отношение вероятностей $P(\ln Z_n>tn)$ и $P(S_n>tn)$ стремится при $n\to\infty$ к положительной постоянной. Критическое значение $\mu^*$ параметра $t$ равняется производной преобразования Лапласа $\theta(\lambda) = E\,e^{\lambda X_1}$в точке $\lambda^*>1$, для которой $\theta(\lambda^*)=\theta(1)$. Для $t>\mu^*$ большие уклонения процесса $Z_n$ возникают за счет больших уклонений сопровождающего случайного блуждания. Для $t<\mu^*$ реализация больших уклонений протекает иначе: до случайного момента $T_n=n\widehat{s_t}+O_p(1)\sqrt{n}$, $\widehat{s}_t:=1-t/\mu^*$, от процесса $Z_n$ требуется лишь, чтобы он не вырождался, а на участке $[T_n, n]$ ему предписывается большое уклонение на величину порядка $\mu^* n(1-\widehat{s}_t)=tn$, которое реализуется так же, как и в случае $t>\mu^*$.

Ключевые слова: ветвящиеся процессы, случайная среда, большие уклонения, случайное блуждание, условие Крамера, экспоненциальный функционал.

Поступила в редакцию: 05.06.2008
Исправленный вариант: 04.12.2008

DOI: 10.4213/tvp2804


 Англоязычная версия: Theory of Probability and its Applications, 2010, 54:3, 424–446

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024