Эта публикация цитируется в
8 статьях
Исследование плазмы
Спектроскопическое исследование плазменной струи гелия с добавками углеводородов
М. Б. Шавелкина,
Р. Х. Амиров,
Д. И. Кавыршин,
В. Ф. Чиннов Объединенный институт высоких температур РАН, г. Москва
Аннотация:
В работе представлены результаты спектроскопического исследования конверсии ацетилена и метана в плазменной струе гелия, создаваемой плазмотроном постоянного тока. Режим работы плазмотрона соответствовал условиям, обеспечивающим высокий выход углеродных наноструктур. В спектрах излучения, зарегистрированных при поперечном наблюдении участка струи протяженностью
$20$ мм, следующего за выходным отверстием анодного канала плазмотрона, доминирующей компонентой в видимом диапазоне длин волн являются высокоинтенсивные полосы Свана молекулы
$\rm C_2$. В спектрах наблюдаются атомарные линии водорода
$\rm HI$ серии Бальмера от
$\rm H_{\alpha}$ до
$\rm H_{\varepsilon}$ многочисленные линии углерода
$\rm CI$ от ультрафиолетовой
$247.9$ нм до инфракрасных
$962$–
$966$ нм и ряд линий гелия
$\rm HeI$. Спектральное определение осевых значений температуры плазменной струи обеспечили наблюдаемые линии ионизованного углерода
$\rm CII\,283.7$ нм,
$392.0$ и
$426.7$ нм. Совместный анализ спектров излучения и рассчитанного в саха-больцмановском приближении состава смеси позволил выявить характер пространственной неоднородности исследуемой
$\rm He : \rm C : \rm H$ плазменной струи. Он проявился в отличии температуры электронов приосевой области струи, измеренной с использованием линий ионизованного углерода
$\mathrm{CII}\,(T_e(0) = 12000$–
$14000$ К
$)$, от колебательной и вращательной температур молекул
$\mathrm{C}_2\,(T_V = T_R \cong 5000$ К
$)$, интенсивно излучающих на периферии струи. Измеренная по ширине линий
$\rm H_{\beta}$ и
$\rm H_{\gamma}$ концентрация электронов, изменяющаяся на наблюдаемом участке струи в диапазоне
$n_e = (4$–
$2) \times 10^{16}$ см
$^{–3}$, отвечает ионизационному равновесию в плазменной смеси
$\rm He : \rm C : \rm H$ с температурой электронов, близкой к
$T_e$, измеренной по ионным линиям углерода.
УДК:
535.338.41; 533.9.07; 533.9.08
Поступила в редакцию: 17.06.2019
Исправленный вариант: 22.10.2019
Принята в печать: 24.12.2019
DOI:
10.31857/S0040364420030163