RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Теплофизика высоких температур // Архив

ТВТ, 1998, том 36, выпуск 1, страницы 161–164 (Mi tvt2229)

Краткие сообщения

Оптический интерференционный метод исследования кинетики термолиза и испарения тонкого слоя вещества при воздействии ультразвука

Д. Н. Юндев, Д. А. Рогаткин, Л. Г. Моисеева

Объединенный институт высоких температур РАН, г. Москва

Аннотация: Предложена методика измерения времени жизни вещества, наносимого на подложку способом отпечатка, основанная на использовании интерференции лазерного излучения в системе подложка–пленка вещества в сочетании с быстродействующей системой фотоэлектрической регистрации. Использование ее представляет интерес в исследованиях тонких эффектов кинетики превращения веществ в условиях перегрева и действия различных внешних факторов.

УДК: 66.092:536.42

Поступила в редакцию: 29.11.1996


 Англоязычная версия: High Temperature, 1998, 36:1, 160–162

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024