Распад плазмы $\mathrm{SF}_6$ после наносекундного пробоя

Экспериментально исследована проводимость плазмы послесвечения $\mathrm{SF}_6$ после наносекундного разряда при давлениях $60$–$400$ мм рт. ст. Методика измерений основана на зондировании плазмы микросекундными импульсами тока. Построена модель распада плазмы. Распад плазмы определяется ион-ионной рекомбинацией слабонеидеальной плазмы, коэффициент рекомбинации рассчитывается с учетом трехчастичных столкновений с введением коэффициента активности по аналогии с электролитами. Обсуждается влияние кластеризации ионов.