Краткие сообщения

К вопросу об измерении термоэлектрической добротности тонких пленок

В. М. Абросимов, Б. Н. Егоров

Московский физико-технический институт

УДК: 539.23:537.323

Поступила в редакцию: 20.07.1970

 Англоязычная версия: High Temperature, 1971, 9:2, 411–412