RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Теплофизика высоких температур // Архив

ТВТ, 1981, том 19, выпуск 5, страницы 1050–1060 (Mi tvt8532)

Высокотемпературные аппараты и конструкции

Экспериментальное исследование межэлектродного пробоя в МГД-каналах

В. И. Залкинд, В. В. Кириллов, А. С. Тихоцкий, Г. Л. Успенская, Д. К. Буренков, Н. В. Стрекалов

Институт высоких температур Академии наук СССР, г. Москва

Аннотация: Изложены результаты экспериментальных исследований межэлектродного пробоя в МГД-каналах Установки У-02, проводимых в развитие опубликованных работ. Разработанная ранее методика развита и дополнена определением параметров развитого пробоя. Исследования проведены с различными типами электродов в широком диапазоне температур их поверхности и при различной ширине межэлектродных промежутков. Определены условия возникновения двух типов пробоя: по плазме ("быстрый" пробой) и по поверхности межэлектродного изолятора ("медленный" пробой). Изучен механизм развития "медленного" пробоя. Установлена роль "привязок" тока на электродах в возникновении обоих типов пробоя; выявлены различия в развитии процессов на анодной и катодной стенках. В достаточно широком диапазоне изменения ширины межэлектродного промежутка получены данные о влиянии этого параметра на образование и характеристики пробоя. Получены данные о величине тока и мощности межэлектродного разряда после пробоя.

УДК: 621.313.12:538.4

Поступила в редакцию: 30.07.1980


 Англоязычная версия: High Temperature, 1981, 19:5, 766–774

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024