RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Теплофизика высоких температур // Архив

ТВТ, 1979, том 17, выпуск 6, страницы 1153–1160 (Mi tvt8818)

Исследование плазмы

Сжатие разряда в молекулярном электроотрицательном газе

В. Л. Бычков, А. В. Елецкий

Институт атомной энергии им. И. В. Курчатова

Аннотация: Рассмотрен механизм сжатия разряда, согласно которому образо­вание электронов происходит преимущественно в узкой приосевой об­ласти разрядной трубки, а их нейтрализация связана с образованием отрицательных ионов и последующей ион-ионной рекомбинацией. Рез­кое уменьшение размера области, где образуются свободные электро­ны, обусловлено развитием тепловой неустойчивости, связанной с резкими температурными зависимостями константы скорости колеба­тельной релаксации и ионизации молекул электронным ударом. На основании приближенного решения системы уравнений баланса для плотности электронов, поступательной и колебательной температуры газа установлены условия сжатия разряда, которые сопоставляются с результатами экспериментальных исследований сжатия разряда в мо­лекулярном кислороде.

УДК: 533.92

Поступила в редакцию: 23.01.1979


 Англоязычная версия: High Temperature, 1979, 17:6, 951–958

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024