RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Управление большими системами // Архив

УБС, 2022, выпуск 100, страницы 6–35 (Mi ubs1123)

Системный анализ

L1-устойчивость переходных плотностей возмущенных вырожденных диффузий

И. И. Биттер

Международная лаборатория стохастического анализа и его приложений, НИУ ВШЭ, Москва

Аннотация: Получен результат об L1-устойчивости возмущений вырожденных диффузии при слабых условиях регулярности на коэффициенты. В частности, рассматриваемые коэффициенты сноса могут быть неограниченными с не более чем линейным ростом, и оценки отображают перенос начальных условий неограниченным сносом через соответствующий детерминированный поток. Подход основан на изучении расстояния в L1-L1-метрике между переходными плотностями исходного и возмущенного вырожденных диффузионных процессов с использованием метода параметрикса в форме МакКина – Зингера

Ключевые слова: вырожденный диффузионный процесс, неограниченный тренд, параметрикс, возмущенная диффузия, плотность.

УДК: 519.7
ББК: 32.81

Поступила в редакцию: 4 ноября 2022 г.
Опубликована: 30 ноября 2022 г.

DOI: 10.25728/ubs.2022.100.1



© МИАН, 2024