А. П. Чукланов, П. А. Бородин, С. А. Зиганшина, А. А. Бухараев, “Алгоритм для анализа АСМ-изображений поверхностей со сложной морфологией”, Учён. зап. Казан. гос. ун-та. Сер. Физ.-матем. науки, 2008, том 150, книга 2,страницы 220

Эта публикация цитируется в 1 статье

Одиннадцатая международная молодежная научная школа "Когерентная оптика и оптическая спектроскопия"

Алгоритм для анализа АСМ-изображений поверхностей со сложной морфологией

А. П. Чукланов, П. А. Бородин, С. А. Зиганшина, А. А. Бухараев

Казанский физико-технический институт им. Е. К. Завойского, КазНЦ РАН

Аннотация: В работе предлагается новый алгоритм для анализа изображений нанообъектов, полученных методами сканирующей зондовой микроскопии. Алгоритм учитывает наличие на поверхности крупномасштабных неровностей и слипшихся объектов. Его работоспособность проверена на специально смоделированных изображениях наночастиц. Одно из возможных применений предложенного алгоритм заключается в анализе поверхности каталитически активных систем, состоящих из наночастиц металлов.

Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, сегментация изображений, наночастицы, математическая обработка эксперимента.

УДК: 51-73+53.083.98+531.728

Поступила в редакцию: 10.03.2008